Double licence Maths ENSAI-Université de Rennes :
Responsable 1A ENSAI : Guillaume Maillard
(guillaume.maillard@ensai.fr)
Responsable L3 Université de Rennes : Jean-Marie Lion
(jean-marie.lion@univ-rennes.fr)
Coordinateur Licence Maths ENSAI-Université de Rennes
: Jérémy Bettinger (jeremy.bettinger@ens-rennes.fr)
Enseignants : Jérémy Bettinger et Thomas Courant
(thomas.courant@ens-rennes.fr)
Responsable scolarité 1A ENSAI : Isabelle Leduc
(isabelle.leduc@ensai.fr)
Parcours MI :
1er semestre : Calcul différentiel en dimension finie, Calcul matriciel,
Méthodes numériques en analyse, Fonctions holomorphes.
2ème semestre : Courbes et surfaces paramétrées,
Analyse appliquée, Analyse numérique.
Parcours MF :
1er semestre : Calcul différentiel, Algèbre linéaire et bilinéaire,
Topologie générale, Fonctions holomorphes.
2ème semestre : Anneaux et arithmétique, Equations
différentielles 2, Espaces vectoriels normés, Analyse numérique.
Emploi du temps :
1er semestre : toujours de 17h15 à 18h40
06/11 (JB) Calcul matriciel
13/11 (TC) Algèbre linéaire et bilinéaire
15/11 (JB) Fonctions holomorphes
25/11 (JB) Fonctions holomorphes (8h-9h30)
27/11 (TC) Méthodes numériques en analyse / Analyse
numérique par anticipation
04/12 (TC) Topologie générale
11/12 (TC) Calcul différentiel (avec dimension finie)
12/12 (TC) Calcul différentiel (avec dimension finie)
Contrôles à Beaulieu : 16, 17 et 18 décembre 2024.
2ème semestre :
(JB) Equations différentielles 2 et Analyse appliquée
(JB) Equations différentielles 2 et Analyse appliquée
(JB) Analyse numérique
(JB) Espaces vectoriels normés
(TC) Espaces vectoriels normés
(TC) Courbes et surfaces paramétrées
(TC) Anneaux et arithmétique
Contrôles à Beaulieu : 5, 6 et 7 mai 2025.
Références :
S1 :
(MI) MNA : Idée générale du cours sur Moodle.
(MI) Calcul Differentiel en dimension finie : Cours
et TD sur Moodle
S2 :
Chapitres 1,2,3. Attention, ce n'est pas
l'enseignant référent de Beaulieu.
Attention, ce n'est pas l'enseignant référent de
Beaulieu, le poly contient beaucoup plus de choses que nécessaire pour
l'examen.